CCI MP是一种高级的测量干涉仪（非接触式3D轮廓仪）。 它采用享有的关联算法，来查找由我们的精密光学扫描装置产生的干涉图的相干峰和相位。

CCI MP对于很多需要进行高精度3D轮廓分析的应用非常有用。 转台上可以同步装配各种各样的标的物，因而可测量多种类型的表面。 全自动的工作台和自动测量程序进一步增强了测量的灵活性。

CCI MP非接触式3D轮廓仪的一个关键优势就是功能多、用途广。 反射率为0.3%至的抛光表面、粗糙表面、曲面、平面或台阶面，都能使用一种算法进行测量，不需要为不同的表面改变模式，也不用担心会选择错误的模式。 可测量的材料类型包括： 玻璃、液体墨水、光刻胶、金属、聚合物和糊剂。

• 1048 x 1048像素阵列，视场广，高分辨率
• 经过改良的X、Y、Z拼接，量程多达100毫米
• RMS重复精度<0.2埃，阶跃高度重复精度<0.1%
• 全量程埃级分辨率
• 多语言版本的Windows 7，64位软件