无论测量的是何种元件，无论对分析速度的要求有多高，我们创新的CCI MP-HS非接触式光学轮廓仪都能为您提供精密的3D表面测量结果。 一百万高速相机与1/10埃垂直分辨率相结合，无论是测量非常粗糙的表面，还是测量极其光滑的表面，都能获得令人不可思议的详细分析。

CCI MP-HS极大地扩展了分析能力，同时又不至于让分析程序变得更复杂。 您可以测量各种各样的元件和表面，不需要进行复杂的测量模式切换，也不会给中间透镜的校准增加额外的负担。 通过标准化的方法、程序和报告，CCI MP-HS可轻松地整合到您的质量管理系统中。

• 1048 x 1048像素阵列，视场广，高分辨率
• 高级X、Y、Z拼接，扩展量程
• RMS重复精度<0.2 埃，阶跃高度重复精度<0.1%
• 整合抗振，优化抗噪性能
• 多语言版本的Windows，64位软件