FISCHERSCOPE® XDAL®

X 射线荧光测试仪，带有可编程的 X/Y平台和Z轴，可自动测量镀层厚度和分析材料组分

特点

• 配备了半导体探测器，由于有更好的信噪比，能更地进行元素分析和薄镀层测量
• 使用微聚焦管可以测量较小的测量点，但因为其信号量较低，不适合测量十分细小的结构  
• 底部C型开槽的大容量测量舱
• 有弹出功能的快速、可编程XY平台

典型应用领域

• 镀层和合金的材料分析（还适用于薄镀层和低含量成分）
• 来料检验，生产监控
• 研究和开发
• 电子工业
• 接插件和触点
• 黄金、珠宝和钟表工业
• 可以测量数纳米薄的镀层，如印刷线路板和电子元器件上的Au和Pd镀层
• 痕量元素分析
• 在有“高可靠性”要求的应用中确定铅（Pb）含量
• 硬质镀层分析

根据 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568 标准进行测量