有色金属的导电性可能会有所不同。对这些基体使用自动补偿，基于电涡流原理可以使用N型探头或者FN型探头的N功能，可以测量多种导电性不同的有色金属材料，无需特别在基体上校准仪器。
所有的SIDSP®探头充分地适应测量各种几何形状的样品。可以对不规则形状表面做出补偿。当您在无涂层基体上校零时，整个量程范围都在这个特定的形状和材料基础上进行校准。
生产过程
在生产过程中，SIDSP探头要经过特殊的校准程序，探头在特征曲线上高达50个点进行校准，如此多个点的校准使得特征曲线在整个量程范围内都十分以致可以消除其偏差。校准数据被储存在传感器无论与哪一种SIDSP显示器相连，都可以迅速地被检索。此外，生产过程中，探头的温度性能地决定整个工作温度范围。这样，每个探头都可以独立调整温度补偿，在任何温度即使温度大幅度变动，特征曲线仍可保持其度。
- 配备众多的接口，MiniTest 7400可以连接各种外接设备。红外接口(IrDA®1.0)可作为标准配置。一个多用接线盒可用来作为一个USB接口连接各种设备，如外借电源、耳机、脚踏开关或警报器。对于单个装置连接，则可选择RS 232和USB连接线以及IrDA®//USB接口转换器。
无损测厚仪MiniTest 7400的优势：
1. 庞大的数据储存器为必要的数据管理，可保存高达500批组的250000个读数。为满足高精度测量的要求，7400探头可达到5点校准（包括零点）。预设的校准方法符合工业准则和ISO 19840SSPC，“瑞典”，“澳大利亚”的测量标准。 此外，延伸的特殊校准方法也适用于粗糙表面的测量。
2. 直观的菜单控制及与上下文相关的联机帮助，使用简易。大背光按键，即使戴着手套操作，也倍感舒适。大背光图形显示频提供的观察效果，即使在晚上或能见度极低的条件下使用也极其方便。
3. 配置管理帮助MiniTest 7400简化了校准及参数设置，无需技能，也可在短的时间内完成困难测量任务。的数据管理如PC一样提供快速创建文件夹和易于设置批组。除了数字显示读数，层次 清楚的显示统计值和读数包括趋势图和直方图、过程能力指数”Cp”和“Cpk”以及组统计值。错误的读数可以从批组中删除以防止产生错误的统计值。
模拟信号处理时代已成过去，数字信号处理将成为未来的趋势。
EPK此项探头内部数字信号处理新技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。高精度，高重现性，对温度变化不敏感，适应性强，这些都是SIDSP®的主要特点。创新的生产技术结合自动化校准过程，而且每个探头可独立校准，从而生产出高质量7400的探头。
这主要源于充分利用了SIDSP技术赋予的优势。的精密生产过程使得每个探头都如出一辙的。
读数的可靠性主要取决于读数的重现性。电磁干扰是普遍的导致误差的根源，所以保护测量系统和探头电缆免受这些干扰非常重要。跟传统技术不同，SIDSP®在探头内部产生和控制激发信号。回传的信号直接进行数字转换和处理从而提供测量厚度值。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置，也就是说：在这种情况下模拟测量系统的信号传输过程中没有更多干扰。即使您的测量工件需要特别长的电缆线也没问题，加长的电缆线同样具有极强的抗干扰能力。
EPK 的SIDSP®探头具有极高的重现性。将探头放在同一测量点测量几次，每次您都可以得到基本一样的结果，再次证明了
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